石墨化度的间接推测-伟名石墨

石墨化度的间接推测

1.通过测定真密度可间接推测石墨度化，真密度直接依赖于晶格参数的变化减小则真密度增加。真密度的测定方法较简单，据计算理想石墨的真密度为2.266g/c3，经过1300℃煅烧过的炭质原料真密度一般达到2.0~2.1g/c3，经过2300~3000℃的石墨化后真密度提高到2.20~2.24g/cm3，因此石墨电极的真密度越大表示石墨化程度越高。

2.通过测定电阻率间接推测石墨化度。由于碳的微晶结构在热处理过程中逐渐由无序排列转为有序排列，晶格参数的变化，使炭材料的电阻率随热处理温度的上升而降低。由石油焦生产的电极焙烧半成品的试块电阻率一般为35μm左右，石墨化后一般可降低到10·m以下，用针状焦生产的优质石墨电极经过温度为3000℃的高温石墨化，电阻率可降低到4~5μ.m，石墨制品的电阻率越低说明其石墨化程度越高。

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